近期，半導體檢測產業的兩大指標性企業——汎銓科技（6830）與光焱科技（7728），正式因矽光子「光學損傷檢測」專利權引爆法律戰火。汎銓董事長柳紀綸強勢宣布已向智慧財產及商業法院提告光焱，指控其侵害核心發明專利，並求償新台幣2億元。這場專利訴訟不僅是臺灣矽光子產業的首例，更揭示了AI時代關鍵傳輸技術背後，檢測雙雄在市場生存與技術主導權上的激烈攻防。
矽光子檢測核心：定位「光損」的關鍵技術
這場專利爭議的核心，聚焦於汎銓所擁有的「光學損傷檢測裝置」發明專利（I870008B）。汎銓董事長柳紀綸在受訪時語氣堅定地指出，該技術與裝置已獲得臺灣、日本及美國的專利認證。他解釋，相較於傳統電路（IC）容易找到故障點，光的IC在定位上極具挑戰性。柳紀綸形容，能否精確定位「光損」位置，便是整個矽光子失效分析（FA）的「入海口」，若無法做到，後續所有分析都將失去意義。
柳紀綸強調：「我們的專利寫得很清楚，甚至可以說是故意寫得這麼白。如果你要在機台上面裝IR相機去搜尋矽光子訊號，那就是進了我的權利範圍。這絕對抓得到，因為眼睛就看得到，這對我們來說是非常容易取證的。」
據汎銓透露，這套搭載IR-NIR CCD感測技術的系統，是汎銓與美系AI巨頭如Meta、NVIDIA在研發階段一路協作磨合的成果，顯見其在產業鏈中的戰略地位。
汎銓的市場野心：拒絕和解，劍指九成市佔
面對這場專利戰，汎銓展現出明確的市場企圖心。柳紀綸董事長直言，公司不僅止於提供分析服務，更預計在今年底推出量產版的檢測機台，單台售價估計將突破1億元。當被問及是否考慮與同業「和解」或「授權」時，他態度堅決地拒絕，表示：「如果是競爭同業，我絕對不會答應。和解的前提就是他不能再做，我要的是市場寡佔，這點沒有空間可以談。」汎銓的目標是達到矽光子定位分析市場90%以上的市佔率，展現其欲壟斷市場的雄心。
為因應此波爆發性成長，汎銓營運長周學良已轉任專責裝置開發，並預計在今年10月推出首台正式銷售版機台。柳紀綸信心滿滿地表示，未來無論是日本或美國的大型設備商，若欲進入這個生態系，都將面臨汎銓所構築的專利壁壘。
光焱科技反擊：十六年自主研發，捍衛核心技術
對於汎銓的強勢提告，光焱科技隨即透過發言人廖清霖協理發布重大訊息予以駁斥。光焱強調，截至目前為止，公司僅從公開資訊觀測站得知汎銓的單方面公告，尚未收到任何法院送達的正式起訴狀或法律訴訟資料。光焱董事長柯歷亞亦對外表示，公司在光學檢測與光電子晶片檢測領域深耕長達16年，旗下的核心產品均為團隊自主研發之自有技術，並無套用他家公司技術的必要性。
- 光焱強調，公司核心技術皆為「自主研發」，深耕光學檢測領域已達16年。
- 截至目前，光焱尚未收到法院正式訴狀。
- 公司目前亦有多項專利正在申請程序中。
- 光焱評估，此案對公司財務及業務均不致產生重大影響，營運照常。
光焱科技鄭重指出，待收到正式訴訟文件後，將委請律師團隊積極配合司法程序進行必要答辯。光焱評估此案對其財務及業務均不致產生重大影響，各項營運、業務及設備出貨皆照常運作，呼籲股東與客戶無須擔憂。
展望與影響：半導體檢測新戰場的未來版圖
隨著AI應用對資料傳輸速度與頻寬需求日益提升，矽光子與共同封裝光學（CPO）技術已成為半導體產業未來十年的關鍵發展方向。汎銓與光焱作為檢測領域的先驅，此次的專利訴訟揭示了先進技術的競爭已從單純的製程端，擴展至檢測與關鍵設備的專利防線。汎銓董事長柳紀綸在會末重申，汎銓的定位已從傳統驗證分析服務，轉型為具備「裝置銷售」能力的技術領航者。這場涉及2億元求償的專利爭霸，究竟是技術保衛戰，抑或是市場卡位戰，最終將交由司法程序給出明確答案，同時也將深刻影響臺灣乃至全球矽光子檢測產業的未來版圖。
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